Physikalische Grundlagen der Elektronenmik...

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Beschreibung

1 Grundlagen.- 2 Dynamische Theorie der Beugungskontraste.- 3 Hochauflösende Elektronenmikroskopie.- 4 Analytische Elektronenmikroskopie.- A Anhang.- A1 Fourier-Optik.- A1.1 Beugung am Spalt.- A1.2 Beugung an einem Gitter aus N Spalten.- A1.3 Fourier-Analyse.- A1.4 Fourier-Transformation.- A1.5 Die Diracsche Deltafunktion.- A1.6 Beugung und Abbildung.- A2 Vereinfachende Abschätzung des Punktauflösungsvermögens eines Elektronenmikroskops.- A3 Formale Behandlung der inkohärenten Abbildung im ringförmigen Dunkelfed (HAADF) des Raster-Transmissions-Elektronenmikroskops.- A4 Konstanz der Helligkeit ? im Strahlengang.- Abbildungen.

Inhaltsverzeichnis

Details

Erscheinungsjahr:	1997
Genre:	Mathematik , Medizin , Naturwissenschaften , Technik , Technik allg.
Rubrik:	Naturwissenschaften & Technik
Medium:	Taschenbuch
Reihe:	Angewandte Physik
Inhalt:	320 S. 26 s/w Illustr. 320 S. 26 Abb.
ISBN-13:	9783519032212
ISBN-10:	351903221X
Sprache:	Deutsch
Einband:	Kartoniert / Broschiert
Autor:	Alexander, Helmut
Hersteller:	Vieweg+Teubner Verlag Angewandte Physik
Verantwortliche Person für die EU:	Springer Vieweg in Springer Science + Business Media, Abraham-Lincoln-Str. 46, D-65189 Wiesbaden, juergen.hartmann@springer.com
Maße:	203 x 133 x 18 mm
Von/Mit:	Helmut Alexander
Erscheinungsdatum:	01.01.1997
Gewicht:	0,366 kg