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Beschreibung
einerseits die Entwicklung der Ultrahoch vakuumtechnik.
einerseits die Entwicklung der Ultrahoch vakuumtechnik.
Inhaltsverzeichnis
1 Einführung.- 1.1 Was ist Oberflächenphysik?.- 1.2 Entwicklung und Methodik der Oberflächenphysik.- 2 Experimentelle Voraussetzungen und Hilfsmittel.- 2.1 Teilchentransport im Ultrahochvakuum (UHV).- 2.2 Ultrahochvakuumtechnologie.- 2.3 Herstellung definierter, einfacher Oberflächen.- 2.4 Häufig verwendete Spektrometerkomponenten.- 3 Geometrische Struktur von Oberflächen.- 3.1 Übersicht über mögliche Anordnungen von Atomen an der Oberfläche.- 3.2 Mathematische Beschreibung von Kristall-Oberflächen.- 3.3 Experimentelle Verfahren und ihre prinzipiellen Grenzen.- 3.4 Direkte Abbildung der Oberfläche.- 3.5 Beugungsbilder von zweidimensionalen periodischen Strukturen.- 3.6 Beugung mit Elektronen-, Röntgen- und Atomstrahlen.- 3.7 Auswertung des Beugungsbildes: Periodizität und Intensität.- 3.8 Defektstrukturen.- 3.9 Strukturuntersuchung mit Ionenstrahlen.- 4 Elektronische und vibronische Struktur von Oberflächen.- 4.1 Elektronische und vibronische Oberflächenzustände.- 4.2 Oberflächen im elektronischen Gleichgewicht.- 4.3 Transportvorgänge und Nichtgleichgewichte.- 4.4 Übersicht über spektroskopische Methoden.- 4.5 Spektroskopie im Bereich der Rumpfelektronen.- 4.6 Spektroskopie im Bereich der Valenzelektronen.- 4.7 Schwingungsspektroskopie.- 5 Wechselwirkungen von Teilchen mit Oberflächen.- 5.1 Bestimmung der Bedeckung und Adsorptionsrate von Teilchen an Festkörperoberflächen.- 5.2 Übersicht verschiedener Festkörper/Gas-Wechselwirkungen.- 5.3 Phänomenologische und statistische Thermodynamik von Festkörper/Gas-Wechselwirkungen.- 5.4 Kinetik von Festkörper/Gas-Wechselwirkungen.- 5.5 Thermodynamisch und kinetisch bestimmte Oberflächenstrukturen.- 5.6 Adsorption an Festkörperoberflächen.- 6 Anwendungsbeispiele aus der allgemeinenMaterialforschung.- 6.1 Die zentrale Problemstellung: Kontrollierte Grenzflächen.- 6.2 Sensorik.- 6.3 Katalyse.- 6.4 Anwendung dünner Schichten.- 6.5 Mikro- und Optoelektronik.- 6.6 Keramik und Hoch-Tc-Supraleitung.- 6.7 Molekularelektronik.- 6.8 Biotechnologie und Medizintechnik.- 7 Literatur.- 8 Anhang.- 8.1 Dreidimensionale Bandstruktur.- 8.2 Zoo der Festkörper-"Onen".- 8.3 Physikalische Größen, Einheiten und Naturkonstanten.- 8.4 Dampfdrücke.- 8.5 Bildzeichen für die Vakuumtechnik.- 8.6 Gebräuchliche Oberflächenuntersuchungsmethoden.- 8.7 Erklärung der Abkürzungen.- 8.8 Bindungsenergien und Wirkungsquerschnitte für die Röntgenphotoemission.- 8.9 Periodensystem der Elemente.- 8.10 Auger-Elektronen-Energie.- 8.11 Spezifikationen ausgewählter Mikroanalysemethoden.
Details
Erscheinungsjahr: | 1991 |
---|---|
Fachbereich: | Allgemeines |
Genre: | Technik |
Rubrik: | Naturwissenschaften & Technik |
Medium: | Taschenbuch |
Reihe: | Teubner Studienbücher Physik |
Inhalt: |
645 S.
583 s/w Illustr. 645 S. 583 Abb. |
ISBN-13: | 9783519030478 |
ISBN-10: | 3519030470 |
Sprache: | Deutsch |
Ausstattung / Beilage: | Paperback |
Einband: | Kartoniert / Broschiert |
Autor: |
Göpel, Wolfgang
Henzler, Martin |
Hersteller: |
Vieweg & Teubner
Vieweg+Teubner Verlag Teubner Studienbücher Physik |
Maße: | 210 x 148 x 35 mm |
Von/Mit: | Wolfgang Göpel (u. a.) |
Erscheinungsdatum: | 01.06.1991 |
Gewicht: | 0,825 kg |
Inhaltsverzeichnis
1 Einführung.- 1.1 Was ist Oberflächenphysik?.- 1.2 Entwicklung und Methodik der Oberflächenphysik.- 2 Experimentelle Voraussetzungen und Hilfsmittel.- 2.1 Teilchentransport im Ultrahochvakuum (UHV).- 2.2 Ultrahochvakuumtechnologie.- 2.3 Herstellung definierter, einfacher Oberflächen.- 2.4 Häufig verwendete Spektrometerkomponenten.- 3 Geometrische Struktur von Oberflächen.- 3.1 Übersicht über mögliche Anordnungen von Atomen an der Oberfläche.- 3.2 Mathematische Beschreibung von Kristall-Oberflächen.- 3.3 Experimentelle Verfahren und ihre prinzipiellen Grenzen.- 3.4 Direkte Abbildung der Oberfläche.- 3.5 Beugungsbilder von zweidimensionalen periodischen Strukturen.- 3.6 Beugung mit Elektronen-, Röntgen- und Atomstrahlen.- 3.7 Auswertung des Beugungsbildes: Periodizität und Intensität.- 3.8 Defektstrukturen.- 3.9 Strukturuntersuchung mit Ionenstrahlen.- 4 Elektronische und vibronische Struktur von Oberflächen.- 4.1 Elektronische und vibronische Oberflächenzustände.- 4.2 Oberflächen im elektronischen Gleichgewicht.- 4.3 Transportvorgänge und Nichtgleichgewichte.- 4.4 Übersicht über spektroskopische Methoden.- 4.5 Spektroskopie im Bereich der Rumpfelektronen.- 4.6 Spektroskopie im Bereich der Valenzelektronen.- 4.7 Schwingungsspektroskopie.- 5 Wechselwirkungen von Teilchen mit Oberflächen.- 5.1 Bestimmung der Bedeckung und Adsorptionsrate von Teilchen an Festkörperoberflächen.- 5.2 Übersicht verschiedener Festkörper/Gas-Wechselwirkungen.- 5.3 Phänomenologische und statistische Thermodynamik von Festkörper/Gas-Wechselwirkungen.- 5.4 Kinetik von Festkörper/Gas-Wechselwirkungen.- 5.5 Thermodynamisch und kinetisch bestimmte Oberflächenstrukturen.- 5.6 Adsorption an Festkörperoberflächen.- 6 Anwendungsbeispiele aus der allgemeinenMaterialforschung.- 6.1 Die zentrale Problemstellung: Kontrollierte Grenzflächen.- 6.2 Sensorik.- 6.3 Katalyse.- 6.4 Anwendung dünner Schichten.- 6.5 Mikro- und Optoelektronik.- 6.6 Keramik und Hoch-Tc-Supraleitung.- 6.7 Molekularelektronik.- 6.8 Biotechnologie und Medizintechnik.- 7 Literatur.- 8 Anhang.- 8.1 Dreidimensionale Bandstruktur.- 8.2 Zoo der Festkörper-"Onen".- 8.3 Physikalische Größen, Einheiten und Naturkonstanten.- 8.4 Dampfdrücke.- 8.5 Bildzeichen für die Vakuumtechnik.- 8.6 Gebräuchliche Oberflächenuntersuchungsmethoden.- 8.7 Erklärung der Abkürzungen.- 8.8 Bindungsenergien und Wirkungsquerschnitte für die Röntgenphotoemission.- 8.9 Periodensystem der Elemente.- 8.10 Auger-Elektronen-Energie.- 8.11 Spezifikationen ausgewählter Mikroanalysemethoden.
Details
Erscheinungsjahr: | 1991 |
---|---|
Fachbereich: | Allgemeines |
Genre: | Technik |
Rubrik: | Naturwissenschaften & Technik |
Medium: | Taschenbuch |
Reihe: | Teubner Studienbücher Physik |
Inhalt: |
645 S.
583 s/w Illustr. 645 S. 583 Abb. |
ISBN-13: | 9783519030478 |
ISBN-10: | 3519030470 |
Sprache: | Deutsch |
Ausstattung / Beilage: | Paperback |
Einband: | Kartoniert / Broschiert |
Autor: |
Göpel, Wolfgang
Henzler, Martin |
Hersteller: |
Vieweg & Teubner
Vieweg+Teubner Verlag Teubner Studienbücher Physik |
Maße: | 210 x 148 x 35 mm |
Von/Mit: | Wolfgang Göpel (u. a.) |
Erscheinungsdatum: | 01.06.1991 |
Gewicht: | 0,825 kg |
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