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Zuverlässige Bauelemente für elektronische Systeme
Fehlerphysik, Ausfallmechanismen, Prüffeldpraxis, Qualitätsüberwachung
Buch von Titu-Marius I. B¿jenescu
Sprache: Deutsch

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Beschreibung
Speicher, Mikroprozessoren, Opto-, MEMS- und NEMS-Bauteile zusammen mit den passiven Komponenten sind das Hauptthema des Buches. Praktische Methoden zur Untersuchung der Zuverlässigkeit sind ergänzt durch umfangreiche Tabellen und veranschaulicht durch zahlreiche Diagramme. Damit erhält der Leser präzise, praxisnah und umfassend sämtliche Zuverlässigkeitsaspekte einfacher und komplexer elektronischer Bauelemente - von der Fehlerphysik über die Prüffeldpraxis und Ausfallmechanismen bis zur Qualitätsüberwachung.
Speicher, Mikroprozessoren, Opto-, MEMS- und NEMS-Bauteile zusammen mit den passiven Komponenten sind das Hauptthema des Buches. Praktische Methoden zur Untersuchung der Zuverlässigkeit sind ergänzt durch umfangreiche Tabellen und veranschaulicht durch zahlreiche Diagramme. Damit erhält der Leser präzise, praxisnah und umfassend sämtliche Zuverlässigkeitsaspekte einfacher und komplexer elektronischer Bauelemente - von der Fehlerphysik über die Prüffeldpraxis und Ausfallmechanismen bis zur Qualitätsüberwachung.
Über den Autor
Titu-Marius I. B¿jenescu ist emeritierter Universitätsprofessor und war zuletzt als unabhängiger Berater in den Bereichen Telekommunikation, Zuverlässigkeit, Qualität und Sicherheit elektronischer Systeme tätig. Er hat an zahlreichen europäischen Universitäten geforscht und gelehrt und für seine Leistungen zwei Ehrendoktortitel erhalten. Er ist Autor mehrerer Bücher zum Thema elektronischer Bauelemente in französischer, rumänischer, englischer und deutscher Sprache.
Zusammenfassung

Von der Fehlerphysik über die Prüffeldpraxis und Ausfallmechanismen bis zur Qualitätsüberwachung

Präzise und praxisnahe Zuverlässigkeitsaspekte umfassend dargestellt, ergänzt durch umfangreiche Tabellen und veranschaulicht durch zahlreiche Diagramme

Praktischen Methoden zur Untersuchung der Zuverlässigkeit der verschiedenen Komponenten

Inhaltsverzeichnis
Zuverlässigkeit einbauen.- Verpackungstechnologien und Zuverlässigkeit.- Memristor, der Speicherwiderstand.- Test und Testbarkeit integrierter Schaltungen.- Zuverlässigkeit diskreter passiver Bauelemente.- Zuverlässigkeit von Leistungsbauelementen.- Zuverlässigkeit monolithisch integrierter Schaltungen.- Aspekte der Zuverlässigkeit von Halbleiterspeichern und Mikroprozessoren.- Zuverlässigkeit optoelektronischer Komponenten.- Zuverlässigkeit von Mikro- und Nanosystemen.- Ausfallanalyse.
Details
Erscheinungsjahr: 2020
Fachbereich: Nachrichtentechnik
Genre: Technik
Rubrik: Naturwissenschaften & Technik
Medium: Buch
Seiten: 676
Inhalt: xxxiii
639 S.
208 s/w Illustr.
24 farbige Illustr.
639 S. 232 Abb.
24 Abb. in Farbe.
ISBN-13: 9783658221775
ISBN-10: 3658221771
Sprache: Deutsch
Herstellernummer: 978-3-658-22177-5
Ausstattung / Beilage: HC runder Rücken kaschiert
Einband: Gebunden
Autor: B¿jenescu, Titu-Marius I.
Auflage: 1. Aufl. 2020
Hersteller: Springer Fachmedien Wiesbaden
Springer Fachmedien Wiesbaden GmbH
Maße: 246 x 173 x 40 mm
Von/Mit: Titu-Marius I. B¿jenescu
Erscheinungsdatum: 25.01.2020
Gewicht: 1,428 kg
preigu-id: 115108198
Über den Autor
Titu-Marius I. B¿jenescu ist emeritierter Universitätsprofessor und war zuletzt als unabhängiger Berater in den Bereichen Telekommunikation, Zuverlässigkeit, Qualität und Sicherheit elektronischer Systeme tätig. Er hat an zahlreichen europäischen Universitäten geforscht und gelehrt und für seine Leistungen zwei Ehrendoktortitel erhalten. Er ist Autor mehrerer Bücher zum Thema elektronischer Bauelemente in französischer, rumänischer, englischer und deutscher Sprache.
Zusammenfassung

Von der Fehlerphysik über die Prüffeldpraxis und Ausfallmechanismen bis zur Qualitätsüberwachung

Präzise und praxisnahe Zuverlässigkeitsaspekte umfassend dargestellt, ergänzt durch umfangreiche Tabellen und veranschaulicht durch zahlreiche Diagramme

Praktischen Methoden zur Untersuchung der Zuverlässigkeit der verschiedenen Komponenten

Inhaltsverzeichnis
Zuverlässigkeit einbauen.- Verpackungstechnologien und Zuverlässigkeit.- Memristor, der Speicherwiderstand.- Test und Testbarkeit integrierter Schaltungen.- Zuverlässigkeit diskreter passiver Bauelemente.- Zuverlässigkeit von Leistungsbauelementen.- Zuverlässigkeit monolithisch integrierter Schaltungen.- Aspekte der Zuverlässigkeit von Halbleiterspeichern und Mikroprozessoren.- Zuverlässigkeit optoelektronischer Komponenten.- Zuverlässigkeit von Mikro- und Nanosystemen.- Ausfallanalyse.
Details
Erscheinungsjahr: 2020
Fachbereich: Nachrichtentechnik
Genre: Technik
Rubrik: Naturwissenschaften & Technik
Medium: Buch
Seiten: 676
Inhalt: xxxiii
639 S.
208 s/w Illustr.
24 farbige Illustr.
639 S. 232 Abb.
24 Abb. in Farbe.
ISBN-13: 9783658221775
ISBN-10: 3658221771
Sprache: Deutsch
Herstellernummer: 978-3-658-22177-5
Ausstattung / Beilage: HC runder Rücken kaschiert
Einband: Gebunden
Autor: B¿jenescu, Titu-Marius I.
Auflage: 1. Aufl. 2020
Hersteller: Springer Fachmedien Wiesbaden
Springer Fachmedien Wiesbaden GmbH
Maße: 246 x 173 x 40 mm
Von/Mit: Titu-Marius I. B¿jenescu
Erscheinungsdatum: 25.01.2020
Gewicht: 1,428 kg
preigu-id: 115108198
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