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Cover: 9780471056690 | Pattern Classification | Richard O Duda (u. a.) | Buch | XXIV | 2000
Dekorationsartikel gehören nicht zum Leistungsumfang.
Pattern Classification
Buch von Richard O Duda (u. a.)
Sprache: Englisch

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Beschreibung
Unter Musterklassifikation versteht man die Zuordnung eines physikalischen Objektes zu einer von mehreren vordefinierten Kategorien. Auf dieser Grundlage können Computer Muster erkennen. Das Interesse an diesem Forschungsgebiet hat in den letzten Jahren, besonders im Zuge der Weiterentwicklung neuronaler Netze, stark zugenommen. Die umfassend überarbeitete, erweiterte und jetzt zweifarbig gestaltete Neuauflage beschreibt alle wesentlichen Aspekte der Mustererkennung systematisch und verständlich. Mit Lösungsheft! (01/00)
Unter Musterklassifikation versteht man die Zuordnung eines physikalischen Objektes zu einer von mehreren vordefinierten Kategorien. Auf dieser Grundlage können Computer Muster erkennen. Das Interesse an diesem Forschungsgebiet hat in den letzten Jahren, besonders im Zuge der Weiterentwicklung neuronaler Netze, stark zugenommen. Die umfassend überarbeitete, erweiterte und jetzt zweifarbig gestaltete Neuauflage beschreibt alle wesentlichen Aspekte der Mustererkennung systematisch und verständlich. Mit Lösungsheft! (01/00)
Über den Autor
RICHARD O. DUDA, PhD, is Professor in the Electrical Engineering Department at San Jose State University, San Jose, California.

PETER E. HART, PhD, is Chief Executive Officer and President of Ricoh Innovations, Inc. in Menlo Park, California.

DAVID G. STORK, PhD, is Chief Scientist, also at Ricoh Innovations, Inc.
Inhaltsverzeichnis
Bayesian Decision Theory.

Maximum-Likelihood and Bayesian Parameter Estimation.

Nonparametric Techniques.

Linear Discriminant Functions.

Multilayer Neural Networks.

Stochastic Methods.

Nonmetric Methods.

Algorithm-Independent Machine Learning.

Unsupervised Learning and Clustering.

Appendix.

Index.
Details
Erscheinungsjahr: 2000
Fachbereich: Nachrichtentechnik
Genre: Technik
Rubrik: Naturwissenschaften & Technik
Medium: Buch
Inhalt: XXIV
656 S.
ISBN-13: 9780471056690
ISBN-10: 0471056693
Sprache: Englisch
Einband: Gebunden
Autor: Duda, Richard O
Hart, Peter E
Stork, David G
Auflage: 2nd edition
Hersteller: Wiley
John Wiley & Sons
Maße: 261 x 184 x 30 mm
Von/Mit: Richard O Duda (u. a.)
Erscheinungsdatum: 09.11.2000
Gewicht: 1,196 kg
Artikel-ID: 106471290
Über den Autor
RICHARD O. DUDA, PhD, is Professor in the Electrical Engineering Department at San Jose State University, San Jose, California.

PETER E. HART, PhD, is Chief Executive Officer and President of Ricoh Innovations, Inc. in Menlo Park, California.

DAVID G. STORK, PhD, is Chief Scientist, also at Ricoh Innovations, Inc.
Inhaltsverzeichnis
Bayesian Decision Theory.

Maximum-Likelihood and Bayesian Parameter Estimation.

Nonparametric Techniques.

Linear Discriminant Functions.

Multilayer Neural Networks.

Stochastic Methods.

Nonmetric Methods.

Algorithm-Independent Machine Learning.

Unsupervised Learning and Clustering.

Appendix.

Index.
Details
Erscheinungsjahr: 2000
Fachbereich: Nachrichtentechnik
Genre: Technik
Rubrik: Naturwissenschaften & Technik
Medium: Buch
Inhalt: XXIV
656 S.
ISBN-13: 9780471056690
ISBN-10: 0471056693
Sprache: Englisch
Einband: Gebunden
Autor: Duda, Richard O
Hart, Peter E
Stork, David G
Auflage: 2nd edition
Hersteller: Wiley
John Wiley & Sons
Maße: 261 x 184 x 30 mm
Von/Mit: Richard O Duda (u. a.)
Erscheinungsdatum: 09.11.2000
Gewicht: 1,196 kg
Artikel-ID: 106471290
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