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Cover: 9781009200813 | Introduction to VLSI Design Flow | Sneh Saurabh | Taschenbuch | 2023
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Introduction to VLSI Design Flow
Taschenbuch von Sneh Saurabh
Sprache: Englisch

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Kategorien:
Beschreibung
This textbook focuses on developing practical skills in employing sophisticated design tools and proficiency in advanced VLSI design, covering the various stages of design implementation, verification, and testing. It will be a vital resource for students aspiring to join the semiconductor industry as well as a refresher for professionals.
This textbook focuses on developing practical skills in employing sophisticated design tools and proficiency in advanced VLSI design, covering the various stages of design implementation, verification, and testing. It will be a vital resource for students aspiring to join the semiconductor industry as well as a refresher for professionals.
Über den Autor
Sneh Saurabh is Associate Professor at the Department of Electronics and Communication Engineering at the Indraprastha Institute of Information Technology, New Delhi, India. He has rich experience in the semiconductor industry, having spent sixteen years working for industry leaders such as Cadence Design Systems, Synopsys India, and Magma Design Automation. His research interests include VLSI design and automation, nanoelectronics, and energy-efficient systems.
Inhaltsverzeichnis
Part I. Overview of VLSI Design Flow: Chapter 1. Foundation; Chapter 2. Introduction to Integrated Circuits; Chapter 3. Pre-RTL Methodologies; Chapter 4. RTL to GDS Implementation Flow; Chapter 5. Verification Techniques; Chapter 6. Testing Techniques; Chapter 7. Post-GDS Processes; Part II. Logic Design: Chapter 8. Modeling Hardware using Verilog; Chapter 9. Simulation-based Verification; Chapter 10. RTL Synthesis; Chapter 11. Formal Verification, Chapter 12. Logic Optimization; Chapter 13. Technology Library; Chapter 14. Static Timing Analysis; Chapter 15. Constraints; Chapter 16. Technology Mapping; Chapter 17. Timing-driven Optimizations; Chapter 18. Power Analysis; Chapter 19. Power-driven Optimizations; Part III. Design for Testability (DFT): Chapter 20. Basics of DFT; Chapter 21. Scan Design; Chapter 22. Automatic Test Pattern Generation (ATPG); Chapter 23. Built-in Self-test (BIST); Part IV. Physical Design: Chapter 24. Basic Concepts for Physical Design; Chapter 25. Chip Planning; Chapter 26. Placement; Chapter 27. Clock Tree Synthesis (CTS); Chapter 28. Routing; Chapter 29. Physical Verification and Signoff; Chapter 30. Post-silicon Validation.
Details
Erscheinungsjahr: 2023
Fachbereich: Nachrichtentechnik
Genre: Importe, Technik
Rubrik: Naturwissenschaften & Technik
Medium: Taschenbuch
ISBN-13: 9781009200813
ISBN-10: 100920081X
Sprache: Englisch
Einband: Kartoniert / Broschiert
Autor: Saurabh, Sneh
Hersteller: Cambridge University Press
Verantwortliche Person für die EU: Libri GmbH, Europaallee 1, D-36244 Bad Hersfeld, gpsr@libri.de
Maße: 246 x 189 x 38 mm
Von/Mit: Sneh Saurabh
Erscheinungsdatum: 15.06.2023
Gewicht: 1,356 kg
Artikel-ID: 126478192
Über den Autor
Sneh Saurabh is Associate Professor at the Department of Electronics and Communication Engineering at the Indraprastha Institute of Information Technology, New Delhi, India. He has rich experience in the semiconductor industry, having spent sixteen years working for industry leaders such as Cadence Design Systems, Synopsys India, and Magma Design Automation. His research interests include VLSI design and automation, nanoelectronics, and energy-efficient systems.
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Part I. Overview of VLSI Design Flow: Chapter 1. Foundation; Chapter 2. Introduction to Integrated Circuits; Chapter 3. Pre-RTL Methodologies; Chapter 4. RTL to GDS Implementation Flow; Chapter 5. Verification Techniques; Chapter 6. Testing Techniques; Chapter 7. Post-GDS Processes; Part II. Logic Design: Chapter 8. Modeling Hardware using Verilog; Chapter 9. Simulation-based Verification; Chapter 10. RTL Synthesis; Chapter 11. Formal Verification, Chapter 12. Logic Optimization; Chapter 13. Technology Library; Chapter 14. Static Timing Analysis; Chapter 15. Constraints; Chapter 16. Technology Mapping; Chapter 17. Timing-driven Optimizations; Chapter 18. Power Analysis; Chapter 19. Power-driven Optimizations; Part III. Design for Testability (DFT): Chapter 20. Basics of DFT; Chapter 21. Scan Design; Chapter 22. Automatic Test Pattern Generation (ATPG); Chapter 23. Built-in Self-test (BIST); Part IV. Physical Design: Chapter 24. Basic Concepts for Physical Design; Chapter 25. Chip Planning; Chapter 26. Placement; Chapter 27. Clock Tree Synthesis (CTS); Chapter 28. Routing; Chapter 29. Physical Verification and Signoff; Chapter 30. Post-silicon Validation.
Details
Erscheinungsjahr: 2023
Fachbereich: Nachrichtentechnik
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Rubrik: Naturwissenschaften & Technik
Medium: Taschenbuch
ISBN-13: 9781009200813
ISBN-10: 100920081X
Sprache: Englisch
Einband: Kartoniert / Broschiert
Autor: Saurabh, Sneh
Hersteller: Cambridge University Press
Verantwortliche Person für die EU: Libri GmbH, Europaallee 1, D-36244 Bad Hersfeld, gpsr@libri.de
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Von/Mit: Sneh Saurabh
Erscheinungsdatum: 15.06.2023
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