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Cover: 9780471954828 | Failure Mechanisms in Semiconductor 2e | Najim | Buch | Englisch
Dekorationsartikel gehören nicht zum Leistungsumfang.
Failure Mechanisms in Semiconductor Devices
Buch von E Ajith Amerasekera (u. a.)
Sprache: Englisch

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Kategorien:
Beschreibung
In dieser zweiten, aktualisierten Auflage identifizieren die Autoren die Ursachen und Mechanismen, die zu Ausfällen von Halbleiterbauelementen führen. Durch Erkennungsmethoden und Technologien zur Vermeidung von Defekten, die in diesem Buch ausführlich beschrieben werden, wird die Zuverlässigkeit der Bauelemente in der Praxis entscheidend bestimmt.
In dieser zweiten, aktualisierten Auflage identifizieren die Autoren die Ursachen und Mechanismen, die zu Ausfällen von Halbleiterbauelementen führen. Durch Erkennungsmethoden und Technologien zur Vermeidung von Defekten, die in diesem Buch ausführlich beschrieben werden, wird die Zuverlässigkeit der Bauelemente in der Praxis entscheidend bestimmt.
Über den Autor

E. Ajith Amerasekera is the author of Failure Mechanisms in Semiconductor Devices, 2nd Edition, published by Wiley. Farid N. Najm is the author of Failure Mechanisms in Semiconductor Devices, 2nd Edition, published by Wiley.

Inhaltsverzeichnis
Aus dem Inhalt:
Introduction. Reliability Mathematics. Principles Failure Mechanisms. Failure Mechanisms in Technologies and Circuits. Reliability Testing. Reliability Prediction. Screening. Failure Analysis. Quality Assurance.
Details
Erscheinungsjahr: 1997
Fachbereich: Nachrichtentechnik
Genre: Technik
Rubrik: Naturwissenschaften & Technik
Medium: Buch
ISBN-13: 9780471954828
ISBN-10: 0471954829
Sprache: Englisch
Einband: Gebunden
Autor: Amerasekera, E Ajith
Najm, Farid N
Auflage: 2nd Revised edition
Hersteller: Wiley
John Wiley & Sons
Maße: 235 x 157 x 26 mm
Von/Mit: E Ajith Amerasekera (u. a.)
Erscheinungsdatum: 04.08.1997
Gewicht: 0,737 kg
Artikel-ID: 101699664
Über den Autor

E. Ajith Amerasekera is the author of Failure Mechanisms in Semiconductor Devices, 2nd Edition, published by Wiley. Farid N. Najm is the author of Failure Mechanisms in Semiconductor Devices, 2nd Edition, published by Wiley.

Inhaltsverzeichnis
Aus dem Inhalt:
Introduction. Reliability Mathematics. Principles Failure Mechanisms. Failure Mechanisms in Technologies and Circuits. Reliability Testing. Reliability Prediction. Screening. Failure Analysis. Quality Assurance.
Details
Erscheinungsjahr: 1997
Fachbereich: Nachrichtentechnik
Genre: Technik
Rubrik: Naturwissenschaften & Technik
Medium: Buch
ISBN-13: 9780471954828
ISBN-10: 0471954829
Sprache: Englisch
Einband: Gebunden
Autor: Amerasekera, E Ajith
Najm, Farid N
Auflage: 2nd Revised edition
Hersteller: Wiley
John Wiley & Sons
Maße: 235 x 157 x 26 mm
Von/Mit: E Ajith Amerasekera (u. a.)
Erscheinungsdatum: 04.08.1997
Gewicht: 0,737 kg
Artikel-ID: 101699664
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