Failure Mechanisms in Semiconductor Devices

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Cover: 9780471954828 | Failure Mechanisms in Semiconductor 2e | Najim | Buch | Englisch

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Beschreibung

In dieser zweiten, aktualisierten Auflage identifizieren die Autoren die Ursachen und Mechanismen, die zu Ausfällen von Halbleiterbauelementen führen. Durch Erkennungsmethoden und Technologien zur Vermeidung von Defekten, die in diesem Buch ausführlich beschrieben werden, wird die Zuverlässigkeit der Bauelemente in der Praxis entscheidend bestimmt.

Über den Autor

E. Ajith Amerasekera is the author of Failure Mechanisms in Semiconductor Devices, 2nd Edition, published by Wiley. Farid N. Najm is the author of Failure Mechanisms in Semiconductor Devices, 2nd Edition, published by Wiley.

Inhaltsverzeichnis

Aus dem Inhalt:
Introduction. Reliability Mathematics. Principles Failure Mechanisms. Failure Mechanisms in Technologies and Circuits. Reliability Testing. Reliability Prediction. Screening. Failure Analysis. Quality Assurance.

Details

Erscheinungsjahr:	1997
Fachbereich:	Nachrichtentechnik
Genre:	Technik
Rubrik:	Naturwissenschaften & Technik
Medium:	Buch
Seiten:	360
Inhalt:	Reliability Mathematics.Principal Failure Mechanisms.Failure Mechanisms in Technologies and Circuits.Reliability Testing.Reliability Prediction.Screening.Failure Analysis.Quality Assurance.Appendix.Indexes.\|Aus dem Inhalt:Introduction. Reliability Mathem
ISBN-13:	9780471954828
ISBN-10:	0471954829
Sprache:	Englisch
Einband:	Gebunden
Autor:	Amerasekera, E Ajith Najm, Farid N
Auflage:	2nd Revised edition
Hersteller:	Wiley John Wiley & Sons
Maße:	235 x 157 x 26 mm
Von/Mit:	E Ajith Amerasekera (u. a.)
Erscheinungsdatum:	04.08.1997
Gewicht:	0,737 kg

preigu-id: 101699664

Über den Autor

Inhaltsverzeichnis

Details

Erscheinungsjahr:	1997
Fachbereich:	Nachrichtentechnik
Genre:	Technik
Rubrik:	Naturwissenschaften & Technik
Medium:	Buch
Seiten:	360
Inhalt:	Reliability Mathematics.Principal Failure Mechanisms.Failure Mechanisms in Technologies and Circuits.Reliability Testing.Reliability Prediction.Screening.Failure Analysis.Quality Assurance.Appendix.Indexes.\|Aus dem Inhalt:Introduction. Reliability Mathem
ISBN-13:	9780471954828
ISBN-10:	0471954829
Sprache:	Englisch
Einband:	Gebunden
Autor:	Amerasekera, E Ajith Najm, Farid N
Auflage:	2nd Revised edition
Hersteller:	Wiley John Wiley & Sons
Maße:	235 x 157 x 26 mm
Von/Mit:	E Ajith Amerasekera (u. a.)
Erscheinungsdatum:	04.08.1997
Gewicht:	0,737 kg