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Die 20., stark überarbeitete Auflage dieses bewährten Standardwerks behandelt grundlegend und umfassend sämtliche Teilgebiete der Kristallographie, wobei u. a.aktuelle Beugungsmethoden mit Neutronen und Synchrotronstrahlung erstmalig beschrieben werden.
Die 20., stark überarbeitete Auflage dieses bewährten Standardwerks behandelt grundlegend und umfassend sämtliche Teilgebiete der Kristallographie, wobei u. a.aktuelle Beugungsmethoden mit Neutronen und Synchrotronstrahlung erstmalig beschrieben werden.
| Erscheinungsjahr: | 2020 |
|---|---|
| Fachbereich: | Atomphysik & Kernphysik |
| Genre: | Mathematik, Medizin, Naturwissenschaften, Physik, Technik |
| Rubrik: | Naturwissenschaften & Technik |
| Medium: | Taschenbuch |
| Übersetzungstitel: | Introduction to Crystallography |
| Reihe: | De Gruyter Studium |
| Inhalt: |
XVI
516 S. 320 s/w Illustr. 31 farbige Illustr. 320 b/w and 31 col. ill. |
| ISBN-13: | 9783110460230 |
| ISBN-10: | 3110460238 |
| Sprache: | Deutsch |
| Einband: | Klappenbroschur |
| Autor: |
Bohm, Joachim
Klimm, Detlef Mühlberg, Manfred Winkler, Björn |
| Auflage: | 20th expanded edition |
| Hersteller: |
Walter de Gruyter
de Gruyter, Walter, GmbH |
| Verantwortliche Person für die EU: | Walter de Gruyter GmbH, De Gruyter GmbH, Genthiner Str. 13, D-10785 Berlin, productsafety@degruyterbrill.com |
| Abbildungen: | 320 b/w and 31 col. ill. |
| Maße: | 238 x 170 x 31 mm |
| Von/Mit: | Joachim Bohm (u. a.) |
| Erscheinungsdatum: | 09.11.2020 |
| Gewicht: | 0,898 kg |
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