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Cover: 9780780310001 | Semiconductor Memories | Technology, Testing, and Reliability | Buch
Dekorationsartikel gehören nicht zum Leistungsumfang.
Semiconductor Memories
Technology, Testing, and Reliability
Buch von Ashok K Sharma (u. a.)
Sprache: Englisch

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Kategorien:
Beschreibung
Semiconductor Memories provides in-depth coverage in the areas of design for testing, fault tolerance, failure modes and mechanisms, and screening and qualification methods including.
* Memory cell structures and fabrication technologies.
* Application-specific memories and architectures.
* Memory design, fault modeling and test algorithms, limitations, and trade-offs.
* Space environment, radiation hardening process and design techniques, and radiation testing.
* Memory stacks and multichip modules for gigabyte storage.
Semiconductor Memories provides in-depth coverage in the areas of design for testing, fault tolerance, failure modes and mechanisms, and screening and qualification methods including.
* Memory cell structures and fabrication technologies.
* Application-specific memories and architectures.
* Memory design, fault modeling and test algorithms, limitations, and trade-offs.
* Space environment, radiation hardening process and design techniques, and radiation testing.
* Memory stacks and multichip modules for gigabyte storage.
Über den Autor

ASHOK K. SHARMA is the author of Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability. He is currently working as a reliability engineering manager at NASA, Goddard Space Flight Center, Greenbelt, Maryland.

Details
Erscheinungsjahr: 2002
Fachbereich: Nachrichtentechnik
Genre: Technik
Rubrik: Naturwissenschaften & Technik
Medium: Buch
Seiten: 480
Inhalt: Einband - fest (Hardcover)
ISBN-13: 9780780310001
ISBN-10: 0780310004
Sprache: Englisch
Einband: Gebunden
Autor: Sharma, Ashok K
Ieee
Sharma, Facp Facc
Hersteller: Wiley
John Wiley & Sons
Maße: 260 x 183 x 30 mm
Von/Mit: Ashok K Sharma (u. a.)
Erscheinungsdatum: 26.08.2002
Gewicht: 1,085 kg
preigu-id: 107427791
Über den Autor

ASHOK K. SHARMA is the author of Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability. He is currently working as a reliability engineering manager at NASA, Goddard Space Flight Center, Greenbelt, Maryland.

Details
Erscheinungsjahr: 2002
Fachbereich: Nachrichtentechnik
Genre: Technik
Rubrik: Naturwissenschaften & Technik
Medium: Buch
Seiten: 480
Inhalt: Einband - fest (Hardcover)
ISBN-13: 9780780310001
ISBN-10: 0780310004
Sprache: Englisch
Einband: Gebunden
Autor: Sharma, Ashok K
Ieee
Sharma, Facp Facc
Hersteller: Wiley
John Wiley & Sons
Maße: 260 x 183 x 30 mm
Von/Mit: Ashok K Sharma (u. a.)
Erscheinungsdatum: 26.08.2002
Gewicht: 1,085 kg
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