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Cover: 9783540639763 | Scanning Electron Microscopy | Ludwig Reimer | Buch | Englisch | 1998
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Scanning Electron Microscopy
Physics of Image Formation and Microanalysis
Buch von Ludwig Reimer
Sprache: Englisch

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Kategorien:
Beschreibung
Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.
Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.
Zusammenfassung

Main benefit is information about the physics of image formation and microanalysis in scanning electron microscopy

2nd, completely revised and updated edition

Inhaltsverzeichnis
Electron Optics of a Scanning Electron Microscope.- Electron Scattering and Diffusion.- Emission of Backscattered and Secondary Electrons.- Electron Detectors and Spectrometers.- Image Contrast and Signal Processing.- Electron-Beam-Induced Current and Cathodoluminescence.- Special Techniques in SEM.- Crystal Structure Analysis by Diffraction.- Elemental Analysis and Imaging with X-Rays.
Details
Erscheinungsjahr: 1998
Fachbereich: Nachrichtentechnik
Genre: Technik
Rubrik: Naturwissenschaften & Technik
Medium: Buch
Seiten: 544
Reihe: Springer Series in Optical Sciences
ISBN-13: 9783540639763
ISBN-10: 3540639764
Sprache: Englisch
Ausstattung / Beilage: HC runder Rücken kaschiert
Einband: Gebunden
Autor: Reimer, Ludwig
Redaktion: Hawkes, P.W.
Auflage: 2nd completely revidierte and updated ed. 1998
Hersteller: Springer-Verlag GmbH
Springer Berlin Heidelberg
Springer Series in Optical Sciences
Maße: 241 x 160 x 35 mm
Von/Mit: Ludwig Reimer
Erscheinungsdatum: 17.09.1998
Gewicht: 0,975 kg
preigu-id: 113173623
Zusammenfassung

Main benefit is information about the physics of image formation and microanalysis in scanning electron microscopy

2nd, completely revised and updated edition

Inhaltsverzeichnis
Electron Optics of a Scanning Electron Microscope.- Electron Scattering and Diffusion.- Emission of Backscattered and Secondary Electrons.- Electron Detectors and Spectrometers.- Image Contrast and Signal Processing.- Electron-Beam-Induced Current and Cathodoluminescence.- Special Techniques in SEM.- Crystal Structure Analysis by Diffraction.- Elemental Analysis and Imaging with X-Rays.
Details
Erscheinungsjahr: 1998
Fachbereich: Nachrichtentechnik
Genre: Technik
Rubrik: Naturwissenschaften & Technik
Medium: Buch
Seiten: 544
Reihe: Springer Series in Optical Sciences
ISBN-13: 9783540639763
ISBN-10: 3540639764
Sprache: Englisch
Ausstattung / Beilage: HC runder Rücken kaschiert
Einband: Gebunden
Autor: Reimer, Ludwig
Redaktion: Hawkes, P.W.
Auflage: 2nd completely revidierte and updated ed. 1998
Hersteller: Springer-Verlag GmbH
Springer Berlin Heidelberg
Springer Series in Optical Sciences
Maße: 241 x 160 x 35 mm
Von/Mit: Ludwig Reimer
Erscheinungsdatum: 17.09.1998
Gewicht: 0,975 kg
preigu-id: 113173623
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