Handbuch Festkörperanalyse mit Elektronen,...

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Beschreibung

Es ist das Ziel aller Festkorperanalyseverfahren, durch Beitrage zur Aufkllirung der stofflichen Zusammensetzung und des strukturellen Aufbaus, insbesondere in Mikro bereichen von Festkorpern, Zusammenhange mit entsprechenden makroskopischen Festkorpereigenschaften aufzudecken und so Voraussetzungen ftir deren gezielte Beeinflussung zu schaffen. 1m vorliegenden Buch werden Methoden der Festkorperanalyse mit Elektronen, Ionen und Rontgenstrahlen insoweit beschrieben, als - abgesehen von einem. Kapitel tiber Feldemissionsmikroskopie - sowohl zur Anregung des die Analyse ermoglichenden physikalischen Prozesses wie auch zum Nachweis desselben jeweils eine der drei genannten Teilchen- bzw. Strahlungsarten genutzt wird. Aus der Ftille der Analysenprinzipien, die auf der Basis der Wechselwirkung von Teilchen strahlung bzw. elektromagnetischer Strahlung mit dem Festkorper arbeiten, werden - dem Buchtitel entsprechend - seitens der Teilchenstrahlung nur ElektrOllen und Ionen (nicht aber N eutronen) und aus dem breiten Spektrum der elektromagnetischen Strahlung nur die Rontgenstrahlen - im Teilchenbild die Rontgenquanten - aus gewahlt. Die eng begrenzte Auswahl war einerseits wegen des notwendigerweise beschrankten Umfangs des Buches erforderlich, andererseits bot sich eine Zusammen fassung dieser Methodengruppe wegen der engen Beriihrungspunkte hinsichtlich der Anregung der zur Analyse benutzten Strahlung (Elektronenquellen, Ionenquellen, Rontgenstrahlquellen), des Nachweises der durch die Wechselwirkung mit dem Fest korper erzeugten bzw. modifizierten Elektronen-, Ionen-oder Rontgenstrahlung und der geratetechnischen Grundlagen (Hochspannungsanlagen ftir die Strahlungs erzeugung, Einsatz der Vakuumtechnik) an.

Inhaltsverzeichnis

Einführung.- 1. Röntgendiffraktometrie.- 2. Röntgentopographie.- 3. Röntgenfluoreszenzanalyse.- 4. Elektronenstrahl-Mikroanalyse.- 5. Hoehauflösende Röntgenspektroskopie.- 6. Festkörperanalyse mittels ioneninduzierter Röntgenstrahlung.- 7. Beugung schneller Elektronen (HEED).- 8. Beugung langsamer Elektronen (LEED).- 9. Durchstrahlungs-Elektronenmikroskopie.- 10. Oberfläehen-Elektronenmikroskopie.- 11. Feldemissionsmikroskopie.- 12. Energieverlust-Elektronenspektroskopie.- 13. Auger-Elektronenspektroskopie.- 14. Photoelektronenspektroskopie.- 15. Ioneninduzierte Elektronenemission.- 16. Ionenreflexionsspektroskopie.- 17. Ionometrie.- 18. Sekundärionen-Massenspektroskopie.- 19. Elektronenstimulierte Ionendesorption.- 20. Rechnersteuerung, Datenerfassung und Auswertung.- Autorenverzeichnis.

Details

Erscheinungsjahr:	1980
Fachbereich:	Allgemeines
Genre:	Technik
Rubrik:	Naturwissenschaften & Technik
Medium:	Taschenbuch
Seiten:	436
Inhalt:	432 S.
ISBN-13:	9783528083984
ISBN-10:	3528083980
Sprache:	Deutsch
Ausstattung / Beilage:	Paperback
Einband:	Kartoniert / Broschiert
Autor:	Brümmer, Otto
Auflage:	1979
Hersteller:	Vieweg & Teubner Vieweg+Teubner Verlag
Maße:	244 x 170 x 24 mm
Von/Mit:	Otto Brümmer
Erscheinungsdatum:	01.01.1980
Gewicht:	0,748 kg

preigu-id: 107016166

Inhaltsverzeichnis

Details

Erscheinungsjahr:	1980
Fachbereich:	Allgemeines
Genre:	Technik
Rubrik:	Naturwissenschaften & Technik
Medium:	Taschenbuch
Seiten:	436
Inhalt:	432 S.
ISBN-13:	9783528083984
ISBN-10:	3528083980
Sprache:	Deutsch
Ausstattung / Beilage:	Paperback
Einband:	Kartoniert / Broschiert
Autor:	Brümmer, Otto
Auflage:	1979
Hersteller:	Vieweg & Teubner Vieweg+Teubner Verlag
Maße:	244 x 170 x 24 mm
Von/Mit:	Otto Brümmer
Erscheinungsdatum:	01.01.1980
Gewicht:	0,748 kg